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数字化射线检测系统
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型号:CIT

更新时间:2024-01-24  |  阅读:1830

详情介绍

数字化射线检测技术对产品检测过程产生了巨大的影响,由于数字化成像技术能够降低所需辐射能量及曝光时间,使得该技术明显地降低成本、节省时间。该技术采用计算机系统、直接成像探测器或可重复使用的数字成像板来替代X射线胶片、暗室处理过程以及传统的底片存档。

CIT公司致力于数字化射线检测系统的研发、生产已有二十多年时间,市场覆盖不同工业领域,并可根据ASNT或EN标准为客户提供相关培训。CIT还是欧洲标准化委员会、美国无损检测学会及英国无损检测学会成员单位。其客户遍布,如英国BNFL、德国*、加拿大(AECL)、韩国KEPRI等。并与DURR NDT, ICM, TWI,Panasonic、HP等专业协会或公司建立长期合作伙伴关系。

CIT公司的主要产品包括数字化射线成像系统,底片数字化系统,射线剂量计,双丝像质计,专门用于数字化成像质量控制的测试板以及专业的射线检测模拟软件等数字化成像的相关产品。

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