温度是薄膜生长的关键参数之一,获得薄膜生长的准确温度对于控制薄膜生长、分析薄膜生长过程、提高薄膜生长的可重复性等至关重要。恰当的测温方法对实验可能起到事半功倍的作用。测量样品温度的方法很多,根据测量方式不同,可将其分为接触式和非接触式两种。接触式温度测量即通过温度计或热电偶等温度测量仪来获得样品温度,非接触式激光测量即在不接触样品表面的情况下获得样品表面温度。
非接触式激光测量可广泛应用于钢铁、冶金、汽车、仓储、矿山、化工、陶瓷、纺织、造纸、航空材料等行业生产工艺中的材料长度与速度的监测及控制。可用于测量各种材料,无论材料软或硬;干燥或潮湿;带状、线状或管状;还是运动的单件产品。典型的应用如终端长度测量,货物的批量生产及用于过程控制的差分速度测量。
非接触式激光测量的特点:
1、非接触式,即不带放射性的荧光光源发射箱和接收箱位于板材的上下相对位置,测厚仪不与板材直接接触。
2、测厚仪安装在防振基础上,外壳采用水冷和屏蔽,不受高温、粉尘、振动和电磁干扰的影响。
3、连续快速采样测量,实现高速的板材厚度检测。
4、动态测量精度髙,对板材厚度进行高精度的无损在线检测。
5、在轧制过程中板材实时显示厚度变化,能直观的反映轧制情况。
6、可定制成多点测量或横向覆盖式测量的方式。